9/08/2020，光纖在線(xiàn)訊，2020年9月9-11日，MultiLane全系列高速互聯(lián)測(cè)試方案將在4號(hào)館4A305、306深圳市唐領(lǐng)科技展臺(tái)亮相，MultiLane覆蓋了高速測(cè)試儀器、互聯(lián)測(cè)試夾具模塊及工具、ATE測(cè)試系統(tǒng)等實(shí)用性研發(fā)、生產(chǎn)及現(xiàn)場(chǎng)測(cè)試產(chǎn)品。

     此次展會(huì)重點(diǎn)推出800G、400G革命性誤碼儀，除了傳統(tǒng)誤碼儀單通道53GBd的測(cè)量速率，還真正使用硬件方式進(jìn)行FEC的測(cè)量而非過(guò)去的FEC的仿真功能。獨(dú)特的通道仿真功能，讓客戶(hù)可以模擬在不同損耗下的信號(hào)狀況。同時(shí)，串?dāng)_噪音作為一個(gè)特有的選項(xiàng)可集成在機(jī)器內(nèi)部，需要做電壓力及容限測(cè)試的客戶(hù)有了更多的選擇。配搭誤碼儀測(cè)試的光電采樣示波器也一并展出，豐富的數(shù)字濾波器、數(shù)字信號(hào)處理能力是測(cè)量53GBd及26GBd PAM4光電信號(hào)的一大亮點(diǎn)。


            
高速測(cè)試的相關(guān)夾具、模塊及分析工具也是此次展出的重點(diǎn)，CMIS分析工具是400G主機(jī)與模塊交互的非常有用的分析工具，智能Loopback模塊模擬功耗、發(fā)熱分布及損耗，大大提高主機(jī)廠(chǎng)商的研發(fā)和測(cè)試效率。
  


在國(guó)家大力發(fā)展半導(dǎo)體產(chǎn)業(yè)的同時(shí)，MultiLane也擁有ATE測(cè)試系統(tǒng)，適用于高速I(mǎi)/O、RF driver及TIA等高速芯片的在線(xiàn)測(cè)試，此次將由上海巍測(cè)在展臺(tái)展出相應(yīng)的測(cè)試方案。
 


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