會員新品 | 聯(lián)訊儀器全新推出200V PXIe 精密源表S2012C
發(fā)布時間:2022-11-08 10:33:03 熱度:1734
11/08/2022,光纖在線訊,近期,光纖在線會員企業(yè)--聯(lián)訊儀器宣布推出新品:全新 PXIe 精密電源/測量單元 S2012C,該產(chǎn)品具有高精度、高速測量、并支持多通道并行測試等優(yōu)勢。



聯(lián)訊儀器全新推出 PXIe 精密電源/測量單元 S2012C。其最小測量分辨率達10fA/100nV,輸出電壓高達±200V。進一步拓展了PXIe源表的應(yīng)用場景,工程師可以使用 S2012C SMU(Source Measure Unit) 來測量低電流信號,同時PXIe SMU 的高通道密度、高速的測試吞吐率和靈活性可實現(xiàn)晶圓級參數(shù)測試、材料研究以及分析低電流傳感器和集成電路的特性等多種應(yīng)用。
01高精度
S2012C 分辨率高達10fA/100nV,電壓精度100μV,電流精度10pA ,可用于測量微小的泄漏電流等應(yīng)用場合,泄漏電流通常在pA級別,S2012C搭配3同軸測量端子,用于nA級以下小電流測試。
02Adaptive PFC系統(tǒng)
用戶可利用Adaptive PFC(Precise-Fast Control)系統(tǒng),用戶可根據(jù)負載特性,調(diào)整相關(guān)參數(shù),獲得更精確,快速的輸出特性。
03高速測量
S2012C 最高可支持1M的采樣率,NPLC和采樣率可根據(jù)需要設(shè)定,以滿足高速高精度的測量場景。
04構(gòu)建多通道并行測試系統(tǒng)
基于PXIe的模塊化架構(gòu)便于構(gòu)建緊湊的并行多通道測試系統(tǒng),可擴展至數(shù)百個通道來滿足晶圓級可靠性和并行測試需求。
05直流I-V輸出能力

06脈沖I-V輸出能力

SMU產(chǎn)品系列



關(guān)于聯(lián)訊
聯(lián)訊儀器是國內(nèi)高端測試儀器和設(shè)備提供商。主要專注于高速通信測試,光芯片測試和半導(dǎo)體測試三大領(lǐng)域,可以提供包括高速誤碼儀、網(wǎng)絡(luò)測試儀、寬帶采樣示波器、高精度波長計、光譜儀,通用數(shù)字源表等高端測試儀器,以及高速光電混合ATE, 激光器芯片老化機,激光器芯片測試機,硅光晶圓測試機,功率芯片測試機,晶圓老化機,等高端測試設(shè)備。
更多產(chǎn)品詳情,請訪問 www.semight.com
聯(lián)系聯(lián)訊儀器
銷售中心負責(zé)人:楊 建 186-6029-8596
光芯片老化測試:張 紀 189-7147-3511
光通訊測試儀表:鄧 寒 186-2613-2729
高精度數(shù)字源表:張盼盼 185-2212-4627
半導(dǎo)體測試設(shè)備:張學(xué)增 185-2212-4627
   


聯(lián)訊儀器全新推出 PXIe 精密電源/測量單元 S2012C。其最小測量分辨率達10fA/100nV,輸出電壓高達±200V。進一步拓展了PXIe源表的應(yīng)用場景,工程師可以使用 S2012C SMU(Source Measure Unit) 來測量低電流信號,同時PXIe SMU 的高通道密度、高速的測試吞吐率和靈活性可實現(xiàn)晶圓級參數(shù)測試、材料研究以及分析低電流傳感器和集成電路的特性等多種應(yīng)用。
01高精度
S2012C 分辨率高達10fA/100nV,電壓精度100μV,電流精度10pA ,可用于測量微小的泄漏電流等應(yīng)用場合,泄漏電流通常在pA級別,S2012C搭配3同軸測量端子,用于nA級以下小電流測試。
02Adaptive PFC系統(tǒng)
用戶可利用Adaptive PFC(Precise-Fast Control)系統(tǒng),用戶可根據(jù)負載特性,調(diào)整相關(guān)參數(shù),獲得更精確,快速的輸出特性。
03高速測量
S2012C 最高可支持1M的采樣率,NPLC和采樣率可根據(jù)需要設(shè)定,以滿足高速高精度的測量場景。
04構(gòu)建多通道并行測試系統(tǒng)
基于PXIe的模塊化架構(gòu)便于構(gòu)建緊湊的并行多通道測試系統(tǒng),可擴展至數(shù)百個通道來滿足晶圓級可靠性和并行測試需求。
05直流I-V輸出能力

06脈沖I-V輸出能力

SMU產(chǎn)品系列



關(guān)于聯(lián)訊
聯(lián)訊儀器是國內(nèi)高端測試儀器和設(shè)備提供商。主要專注于高速通信測試,光芯片測試和半導(dǎo)體測試三大領(lǐng)域,可以提供包括高速誤碼儀、網(wǎng)絡(luò)測試儀、寬帶采樣示波器、高精度波長計、光譜儀,通用數(shù)字源表等高端測試儀器,以及高速光電混合ATE, 激光器芯片老化機,激光器芯片測試機,硅光晶圓測試機,功率芯片測試機,晶圓老化機,等高端測試設(shè)備。
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聯(lián)系聯(lián)訊儀器
銷售中心負責(zé)人:楊 建 186-6029-8596
光芯片老化測試:張 紀 189-7147-3511
光通訊測試儀表:鄧 寒 186-2613-2729
高精度數(shù)字源表:張盼盼 185-2212-4627
半導(dǎo)體測試設(shè)備:張學(xué)增 185-2212-4627


