Santec | 光電探測器高速光譜掃描響應度測試
發(fā)布時間:2023-05-09 10:00:22 熱度:2551
5/09/2023,光纖在線訊,光電導探測器是利用半導體材料的光電導效應制作的探測器。所謂光電導效應,是指有輻射引起被照射材料電導率改變的一種物理現(xiàn)象。
光電導探測器根據(jù)材料不同,可以工作在不同的波段,比如在近紅外波段的有PbS,PbSe,InGaAs,InP材料等,在長于8um的波段有Te,Si摻雜,Ge 摻雜等.近年來光電探測器的研究發(fā)展迅速,尤其是在標準CMOS工藝下的Si光電探測器的發(fā)展已經(jīng)取得矚目的結果,并且也成功應用在我們光通信的器件和設備當中。
無論哪種材料或者技術制作的光電探測器,都有一套根據(jù)實際應用制定的評價體系,能夠科學的反應各種光電探測器的共同因素,人們可以根據(jù)這套評價體系衡量探測器的性能的優(yōu)劣,比較各種探測器之間的差異,從而更加合理和正確的選擇和使用光電探測器。
在評價體系中有一個非常重要的指標是光譜效應(spectral response)。光譜響應是表征光電探測器的響應度或探測率隨波長而變化的性能參數(shù)。設波長可變的光功率譜密度為Pλ,由于光電探測器的光譜選擇性,在其他條件不變的情況下,光電流將是光波長的函數(shù)。記為iλ,于是光譜靈敏度Rλ。
為了測量光譜響應度客戶可能采用的方法如下:

上圖的方法效率非常低,每個波長點的測試,電腦都需要下發(fā)命令控制光源改變,再下發(fā)命令SMU測試并且讀取測試結果,多個波長測試測試耗費數(shù)小時的時間。
Santec 基于最早光層的波長掃描系統(tǒng),開發(fā)了新的電流計單板用于高速PD電流的測試,從而完成PD的快速波長相應測試。

Santec 提供完整的測試系統(tǒng),測試軟件可以直接顯示測試曲線,或者按照客戶要求提供原始數(shù)據(jù)。

Santec 提供多款探測器:
•功率計MPM-211或者MPM-215直接探測光功率
•電流計MPM-213測試PD響應度用于OE測試
•MPM-212提供高速模擬輸出功能用于自動耦合

MPM-213模塊指標如下

   光電導探測器根據(jù)材料不同,可以工作在不同的波段,比如在近紅外波段的有PbS,PbSe,InGaAs,InP材料等,在長于8um的波段有Te,Si摻雜,Ge 摻雜等.近年來光電探測器的研究發(fā)展迅速,尤其是在標準CMOS工藝下的Si光電探測器的發(fā)展已經(jīng)取得矚目的結果,并且也成功應用在我們光通信的器件和設備當中。
無論哪種材料或者技術制作的光電探測器,都有一套根據(jù)實際應用制定的評價體系,能夠科學的反應各種光電探測器的共同因素,人們可以根據(jù)這套評價體系衡量探測器的性能的優(yōu)劣,比較各種探測器之間的差異,從而更加合理和正確的選擇和使用光電探測器。
在評價體系中有一個非常重要的指標是光譜效應(spectral response)。光譜響應是表征光電探測器的響應度或探測率隨波長而變化的性能參數(shù)。設波長可變的光功率譜密度為Pλ,由于光電探測器的光譜選擇性,在其他條件不變的情況下,光電流將是光波長的函數(shù)。記為iλ,于是光譜靈敏度Rλ。
為了測量光譜響應度客戶可能采用的方法如下:

上圖的方法效率非常低,每個波長點的測試,電腦都需要下發(fā)命令控制光源改變,再下發(fā)命令SMU測試并且讀取測試結果,多個波長測試測試耗費數(shù)小時的時間。
Santec 基于最早光層的波長掃描系統(tǒng),開發(fā)了新的電流計單板用于高速PD電流的測試,從而完成PD的快速波長相應測試。

Santec 提供完整的測試系統(tǒng),測試軟件可以直接顯示測試曲線,或者按照客戶要求提供原始數(shù)據(jù)。

Santec 提供多款探測器:
•功率計MPM-211或者MPM-215直接探測光功率
•電流計MPM-213測試PD響應度用于OE測試
•MPM-212提供高速模擬輸出功能用于自動耦合

MPM-213模塊指標如下



