新品發(fā)布 | rBT3250-50G突發(fā)誤碼分析儀，支持突發(fā)和連續(xù)模式信號(hào)輸出及誤碼測(cè)試
發(fā)布時(shí)間：2024-07-26 19:08:18 熱度：1712
7/26/2024，光纖在線訊，近期，聯(lián)訊儀器重磅發(fā)布新品，rBT3250-50G突發(fā)誤碼分析儀——支持突發(fā)和連續(xù)模式信號(hào)輸出及誤碼測(cè)試。
50G突發(fā)誤碼分析儀
rBT3250是專門針對(duì)下一代25G/50G無源光網(wǎng)絡(luò)(PON)應(yīng)用的光線路終端(OLT)測(cè)試新型突發(fā)誤碼分析儀，用于評(píng)估突發(fā)模式下的25G及50G OLT接收機(jī)性能。
rBT3250提供2個(gè)獨(dú)立的突發(fā)碼型發(fā)生器和誤碼探測(cè)器通道，支持連續(xù)模式或突發(fā)模式誤碼分析，具有兩路突發(fā)時(shí)分碼型序列產(chǎn)生和誤碼分析能力，碼型時(shí)序靈活可調(diào)。并針對(duì)器件測(cè)試需求，給相應(yīng)測(cè)試通道提供同步的激光器使能、復(fù)位信號(hào)等低速控制通道。產(chǎn)品內(nèi)置時(shí)鐘恢復(fù)，可以自動(dòng)測(cè)距，輕松應(yīng)對(duì)長(zhǎng)纖測(cè)試。
50GPON模塊測(cè)試
如圖a所示，搭建50G PON 突發(fā)測(cè)試環(huán)境，主要由兩個(gè)ONU模塊和一個(gè)OLT模塊組成。突發(fā)誤碼測(cè)試儀兩個(gè)突發(fā)通道PPG時(shí)分交替發(fā)送具備突發(fā)幀結(jié)構(gòu)的數(shù)據(jù)（preamble & Data）及激光器使能信號(hào)（enable），使兩個(gè)ONU模塊交替發(fā)送突發(fā)數(shù)據(jù)，分別經(jīng)過衰減器，模擬不同長(zhǎng)度光纖上的功率衰減，經(jīng)過分光路器合成一路光，接入OLT模塊。突發(fā)誤碼測(cè)試儀ED向OLT發(fā)送reset信號(hào)并接收突發(fā)數(shù)據(jù)，進(jìn)行兩路突發(fā)誤碼比較。
如圖b所示，在雙突發(fā)測(cè)試過程中，突發(fā)誤碼測(cè)試儀通過配置兩個(gè)突發(fā)通道的突發(fā)幀長(zhǎng)度（preamble & Data），以及衰減器的衰減量，可以充分檢測(cè)OLT模塊在接收不同光功率，不同突發(fā)數(shù)據(jù)長(zhǎng)度時(shí)的性能。
產(chǎn)品優(yōu)勢(shì)
01，支持突發(fā)和連續(xù)模式信號(hào)輸出及誤碼測(cè)試：
支持2路突發(fā)時(shí)序可配置的碼型發(fā)生器通道和2路突發(fā)誤碼測(cè)試通道
02，突發(fā)模式支持速率：
24.8832Gbps、25.78125Gbps、49.7664Gbps、51.5625Gbps
03，支持2路同步的ONU激光器使能控制通道誤碼測(cè)試通道：
控制電平是LVTTL 3.3V不需外接電平轉(zhuǎn)換。
04，支持2路雙復(fù)位控制通道：
復(fù)位位置可調(diào)，復(fù)位寬度可調(diào)
主要應(yīng)用
01，50G PON OLT模塊研發(fā)及生產(chǎn)測(cè)試
02，突發(fā)線性TIA芯片測(cè)試：
需要驗(yàn)證突發(fā)信號(hào)情況下TIA(跨阻放大器)的器件的工作狀態(tài)
03，對(duì)碼型時(shí)序有特殊要求的一些場(chǎng)合
04，多通道信號(hào)輸出,多路信號(hào)碼型同步、時(shí)延同步
05，SDI碼型或者成幀信號(hào)產(chǎn)生及誤碼探測(cè)
技術(shù)指標(biāo)
關(guān)于聯(lián)訊
聯(lián)訊儀器是國(guó)內(nèi)高端測(cè)試儀器和設(shè)備供應(yīng)商。主要專注于高速通信、光芯片、電芯片和第三代半導(dǎo)體功率芯片等測(cè)試儀表和設(shè)備的研發(fā)制造。公司可以提供包括寬帶采樣示波器、高速誤碼儀、網(wǎng)絡(luò)流量測(cè)試儀、高精度快速波長(zhǎng)計(jì)、精密數(shù)字源表、低泄漏矩陣開關(guān)等高端測(cè)試儀器，以及高速光電混合ATE、半導(dǎo)體激光器CoC老化、裸Die芯片測(cè)試、硅光晶圓測(cè)試、SiC晶圓老化、SiC裸Die 功率芯片KGD測(cè)試分選、WAT晶圓允收測(cè)試系統(tǒng)、WLR/PLR可靠性測(cè)試系統(tǒng)等高端測(cè)試設(shè)備。
更多產(chǎn)品詳情，請(qǐng)?jiān)L問 www.semight.com
50G突發(fā)誤碼分析儀
rBT3250是專門針對(duì)下一代25G/50G無源光網(wǎng)絡(luò)(PON)應(yīng)用的光線路終端(OLT)測(cè)試新型突發(fā)誤碼分析儀，用于評(píng)估突發(fā)模式下的25G及50G OLT接收機(jī)性能。
rBT3250提供2個(gè)獨(dú)立的突發(fā)碼型發(fā)生器和誤碼探測(cè)器通道，支持連續(xù)模式或突發(fā)模式誤碼分析，具有兩路突發(fā)時(shí)分碼型序列產(chǎn)生和誤碼分析能力，碼型時(shí)序靈活可調(diào)。并針對(duì)器件測(cè)試需求，給相應(yīng)測(cè)試通道提供同步的激光器使能、復(fù)位信號(hào)等低速控制通道。產(chǎn)品內(nèi)置時(shí)鐘恢復(fù)，可以自動(dòng)測(cè)距，輕松應(yīng)對(duì)長(zhǎng)纖測(cè)試。
50GPON模塊測(cè)試
如圖a所示，搭建50G PON 突發(fā)測(cè)試環(huán)境，主要由兩個(gè)ONU模塊和一個(gè)OLT模塊組成。突發(fā)誤碼測(cè)試儀兩個(gè)突發(fā)通道PPG時(shí)分交替發(fā)送具備突發(fā)幀結(jié)構(gòu)的數(shù)據(jù)（preamble & Data）及激光器使能信號(hào)（enable），使兩個(gè)ONU模塊交替發(fā)送突發(fā)數(shù)據(jù)，分別經(jīng)過衰減器，模擬不同長(zhǎng)度光纖上的功率衰減，經(jīng)過分光路器合成一路光，接入OLT模塊。突發(fā)誤碼測(cè)試儀ED向OLT發(fā)送reset信號(hào)并接收突發(fā)數(shù)據(jù)，進(jìn)行兩路突發(fā)誤碼比較。
如圖b所示，在雙突發(fā)測(cè)試過程中，突發(fā)誤碼測(cè)試儀通過配置兩個(gè)突發(fā)通道的突發(fā)幀長(zhǎng)度（preamble & Data），以及衰減器的衰減量，可以充分檢測(cè)OLT模塊在接收不同光功率，不同突發(fā)數(shù)據(jù)長(zhǎng)度時(shí)的性能。
產(chǎn)品優(yōu)勢(shì)
01，支持突發(fā)和連續(xù)模式信號(hào)輸出及誤碼測(cè)試：
支持2路突發(fā)時(shí)序可配置的碼型發(fā)生器通道和2路突發(fā)誤碼測(cè)試通道
02，突發(fā)模式支持速率：
24.8832Gbps、25.78125Gbps、49.7664Gbps、51.5625Gbps
03，支持2路同步的ONU激光器使能控制通道誤碼測(cè)試通道：
控制電平是LVTTL 3.3V不需外接電平轉(zhuǎn)換。
04，支持2路雙復(fù)位控制通道：
復(fù)位位置可調(diào)，復(fù)位寬度可調(diào)
主要應(yīng)用
01，50G PON OLT模塊研發(fā)及生產(chǎn)測(cè)試
02，突發(fā)線性TIA芯片測(cè)試：
需要驗(yàn)證突發(fā)信號(hào)情況下TIA(跨阻放大器)的器件的工作狀態(tài)
03，對(duì)碼型時(shí)序有特殊要求的一些場(chǎng)合
04，多通道信號(hào)輸出,多路信號(hào)碼型同步、時(shí)延同步
05，SDI碼型或者成幀信號(hào)產(chǎn)生及誤碼探測(cè)
技術(shù)指標(biāo)
關(guān)于聯(lián)訊
聯(lián)訊儀器是國(guó)內(nèi)高端測(cè)試儀器和設(shè)備供應(yīng)商。主要專注于高速通信、光芯片、電芯片和第三代半導(dǎo)體功率芯片等測(cè)試儀表和設(shè)備的研發(fā)制造。公司可以提供包括寬帶采樣示波器、高速誤碼儀、網(wǎng)絡(luò)流量測(cè)試儀、高精度快速波長(zhǎng)計(jì)、精密數(shù)字源表、低泄漏矩陣開關(guān)等高端測(cè)試儀器，以及高速光電混合ATE、半導(dǎo)體激光器CoC老化、裸Die芯片測(cè)試、硅光晶圓測(cè)試、SiC晶圓老化、SiC裸Die 功率芯片KGD測(cè)試分選、WAT晶圓允收測(cè)試系統(tǒng)、WLR/PLR可靠性測(cè)試系統(tǒng)等高端測(cè)試設(shè)備。
更多產(chǎn)品詳情，請(qǐng)?jiān)L問 www.semight.com
