7/08/2024,光纖在線訊,DDM(Digital Diagnostic Monitoring)
數(shù)字診斷監(jiān)控技術,是光模塊中使用的技術,以便用戶能夠監(jiān)控光模塊的實時參數(shù)。這些參數(shù)包括工作溫度、工作電壓、工作電流、發(fā)射和接收光功率等,還可以顯示模塊的常規(guī)波長、速率、傳輸距離、廠商名、出廠編號、型號、序列號、出廠日期、告警信息等等。其中RxDDMI/TxDDMI用于指示接收/發(fā)送光功率的大小,為現(xiàn)場問題定位,維護診斷提供方便。
RxDDMI/TxDDMI是ONU的BOB調測的關鍵指標,其實現(xiàn)原理及調測方案,如下圖所示。
圖1 RxDDMI實現(xiàn)原理及調測方案
圖2 TxDDMI實現(xiàn)原理及調測方案
如圖1是ONU的BOB的RxDDMI實現(xiàn)電路,當PIN接收光信號后產生光電流,經放大后,輸入到ADC器件進行檢測,這樣就可以通過AD值反應輸入功率的大小。如圖2是BOB的TxDDMI實現(xiàn)電路,激光器LD發(fā)光時,固定比例的光送到背光MD探測器檢測,產生光電流,放大后輸入到ADC器件進行檢測,AD值大小可反應MD接收光的大小, 由于MD接收光和LD發(fā)送光功率是固定比例,所以AD值也可反應LD發(fā)送功率的大小。
要實現(xiàn)RxDDMI/TXDDMI的功能,除硬件電路外,還需要有對應參數(shù)表,用于表征光功率和ADC讀數(shù)之間的對應關系。在ONU產品上,上述功能多由ONU協(xié)議芯片上集成,屬于ONU的一個基本功能。
ONU的RxDDMI/TXDDMI的調測首先就是要
校準并生成RxDDMI/TXDDMI的參數(shù)表,也就是要建立接收/發(fā)送功率和ADC讀數(shù)之間的換算關系。目前ONU的TxDDMI參數(shù)表標定采用兩點(其中一個點可能是原點)擬合直線,RxDDMI參數(shù)表標定多數(shù)采用多個功率點擬合一條直線的方案,我們以RxDDMI為例,分析校準過程中的誤差和校準方案。
圖3 RxDDMI參數(shù)表校準方案:多點擬合直線
具體校準過程如下:
1、通過改變VOA的衰減,改變到被測ONU的輸入光功率,測試多個不同輸入功率PA1~PA5條件下的RxDDMI的ADC讀數(shù)AD1~AD5;
2、將多個測試點數(shù)據(jù)(PA1,AD1) (PA2,AD2) (PA3,AD3) (PA4,AD4) (PA5,AD5),擬合功率響應直線,計算斜率Slope及偏移量Offset;
3、將斜率Slope及偏移量Offset標定到被測光貓;
4、校準完成并生效后,光貓將檢測RxDDMI的AD值, 根據(jù)標定好的Slope及Offset,計算RxDDMI的上報功率。
TxDDMI參數(shù)表校準方案與RxDDMI類似,只是擬合的測試點數(shù)量不同。
那么RxDDMI/TxDDMI校準過程中可能存在哪些偏差,又怎么預防或校驗呢?
PD的功率響應的非線性偏差
如圖3所示,這種偏差無法是無法通過
測試流程和系統(tǒng)誤差控制來完全消除的。此時,PD功率響應不適合用直線y=kx+b表征。在不同輸入功率條件下,真實功率和上報功率會存在偏差,不同功率點的偏差值不同,且無規(guī)律。
· 預防:InGaAs等PD的功率響應是近似直線的(可能在動態(tài)范圍的邊緣會有一定非線性情況),同時在研發(fā)階段都會對功率響應是否線性進行驗證,從產品設計上保證PD響應的線性,所以這種PD功率響應存在明顯非線性的概率是比較低的。
· 校驗:對于此類偏差,可以在PD校準完成后,對擬合直線與真實功率響應的符合度進行校驗。改變輸入功率,在不同輸入功率PAi時查詢被測光貓的RxDDMI的上報功率PBi,(或利用校準時的幾組測試數(shù)據(jù)(PAi,ADi),將ADi數(shù)據(jù)代入y=Slope*Adi+Offset,計算得到相應RxDDMI的上報功率PBi),并比較實際功率PAi與上報功率PBi偏差,均小于門限,可說明功率響應是符合線性的。該校驗可以和校準在同一工位,也可在不同工位。
PD功率響應的Slope偏差
造成這種響應偏差的主要是測試系統(tǒng)的功率計的線性度和標準功率計出現(xiàn)明顯偏差。如圖4所示,當出現(xiàn)明顯Slope偏差時,就會表現(xiàn)出不同輸入功率情況下,真實功率和上報功率之間的偏差值會出現(xiàn)明顯的差異,且偏差值會遞增或遞減。實際上,功率計一般都會定期計量,功率計線性度偏差的概率也應該是較小的。
圖4 RxDDMI參數(shù)表Slope偏差
· 預防:可在測試系統(tǒng)光路校準時,利用商業(yè)功率計對測試系統(tǒng)功率計線性進行校驗。如圖5,在輸入光功率動態(tài)范圍內,挑選幾個功率點,比較對應的測試系統(tǒng)功率讀數(shù)和校準功率計讀數(shù)偏差,判斷測試系統(tǒng)功率計線性是否正確。
圖5 利用商用功率計校驗測試系統(tǒng)功率計線性
如果能確保測試系統(tǒng)功率計線性滿足要求,理論上應可保證光貓RxDDMI校準的線性Slope的結果是正確的,無需在后續(xù)測試環(huán)節(jié)進行此參數(shù)校驗。
· 校驗:可以在校準工位校驗,也可在獨立的校驗環(huán)節(jié)進行校驗,校驗必須覆蓋兩個功率點,功率點的功率差異盡可能大。
PD功率響應的Offset偏差
這種情況主要是校準或測試環(huán)節(jié)因為光纖臟污或操作原因引起。校準和測試環(huán)節(jié)的誤差形成及影響也是存在差異的,下面我們分別描述:
A. 光路校準時,光纖臟污或光路操作問題,如光纖未插拔到位,光纖彎折等,會導致Rx/Tx方向光路插損不準(通常會偏大),從而導致Rx/Tx方向光路補償值偏大,從而導致測試時的Tx/Rx功率偏大。因為在后續(xù)測試過程中,都需要使用Tx/Rx補償值計算Tx/Rx光功率,所以校準環(huán)節(jié)的誤差就是系統(tǒng)誤差,影響后續(xù)每一次測試結果。在光路校準時,一般Tx/Rx光路校準是分開進行的,光纖插拔也是分開的,每次操作引入的誤差也是不同的,所以Tx/Rx光路校準的誤差一般也是獨立的,不存在必然的關聯(lián)性。
B. 光路測試時,光纖臟污或光路操作問題,如光纖未插拔到位,光纖彎折等,會導致導致Rx/Tx方向光路插損偏大,從而導致測試時的Tx/Rx功率偏小。測試時,每次光纖臟污和操作問題僅僅影響當前DUT的測試結果,下個DUT測試時,光纖清潔或插拔到位后,測試結果可能就恢復正常。ONU光貓是單纖雙向的工作模式,Tx/Rx測試一般就是一次光纖連接,所以臟污或操作引起的誤差會同時影響Tx/Rx的測試結果。
上述原因都會導致Rx/TxDDMI校準的的Offset出現(xiàn)明顯偏差,且是導致校準問題的主要因素。如圖6所示,當出現(xiàn)此類誤差時,不同輸入/輸出功率情況下,真實功率和上報功率會有明顯偏差,但是不同輸入功率點的偏差值基本一致。
圖6 RxDDMI參數(shù)表Offset偏差
· 預防:光路校準前和正常測試環(huán)節(jié)中保證測試環(huán)境光纖清潔,通過校準參數(shù)波動監(jiān)測預警,可減少該類故障發(fā)生,無法完全消除。
· 校驗:對于光纖臟污及操作原因如插拔不到位,光纖彎折等原因導致的校準系統(tǒng)誤差或測試誤差,因為都和操作人員強相關,無法徹底預防,所以必須通過獨立的校驗環(huán)節(jié)進行校驗。由于校準環(huán)節(jié)引入的校準誤差,Tx/Rx方向是獨立的,校驗也必須覆蓋Tx/Rx兩個方向。但是對于上述原因引起的Offset偏差,因為他對不同功率點的測試結果相同,所以只需要在校驗環(huán)節(jié)校驗一個功率點即可。
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