8/20/2021，以往光頻域反射儀（OFDR）只有國外少數(shù)幾家公司擁有高端儀器，細分市場也被壟斷，國內(nèi)需求只能依靠國外進口。近日，昊衡科技自主研發(fā)了系列產(chǎn)品，其核心技術(shù)具有原創(chuàng)性和自主知識產(chǎn)權(quán)，實現(xiàn)OFDR技術(shù)國產(chǎn)商用化，解決了這一新技術(shù)的痛點問題。

   在通信測量領(lǐng)域，昊衡科技推出了OFDR商用產(chǎn)品OCI系列，該系列產(chǎn)品可用于實驗室以及室外工程。系統(tǒng)自校準無需人為干預，穩(wěn)定性非常好，主要技術(shù)參數(shù)已經(jīng)處于國際領(lǐng)先水平，測量精度可達μm級別。



OCI系列產(chǎn)品：
1、全功能的OCI能測量回損、插損、光纖長度、光譜、群延時等；
2、簡化版的OCI-T主要針對硅光芯片器件、光纖微結(jié)構(gòu)定量分析，品質(zhì)監(jiān)測及故障診斷；
3、OCI-L專用于光纖或光學鏈路長度測量。

測試案例：
插入損耗測試
光纖鏈路通常包含多連接點、彎曲和多器件， OCI特有的分布式高精度插損測量能力，可以快速準確地測量并定位鏈路各事件點的插損。
案例中用可調(diào)衰減器在衰減2dB、3dB、5dB時重復測量10次，插損測量重復性誤差小于0.1dB。


回波損耗測試
硅光鏈路具有高度集成性，傳統(tǒng)回損測試方案無法精確定位、測量硅光鏈路某一位置或器件回損特性。OCI具有較高空間分辨與回損測量精度，可以快速并準確地獲取全鏈路任意位置的回損特性。

如圖所示為平面波導延遲線。選取芯片中心0.2m長度區(qū)域計算回損，其值為-57.95dB。同樣，研究人員也可通過OCI測量光纖與硅光芯片耦合點回波損耗來評估耦合效率。


光纖長度測量
OCI在50m測量范圍內(nèi)空間分辨率為10μm，非常適用于高精度光學延時測量領(lǐng)域，如光纖延時、硅光延時、空間光路延時以及邁克爾遜干涉儀的精準測量。


啁啾光柵光譜及延時測量
OCI采用掃頻光源，覆蓋C+L波段，根據(jù)氣體吸收線定位波長，可以實現(xiàn)1pm光譜測量精度和1ps群延時測量精度。


昊衡科技始終秉持著“技術(shù)感知世界”的使命，將不余遺力的堅持創(chuàng)新創(chuàng)造，勵志打破國外技術(shù)壟斷，將國產(chǎn)OFDR技術(shù)推向世界。

關(guān)于昊衡科技
一家集研發(fā)、生產(chǎn)、銷售于一體的高科技公司，專業(yè)從事工業(yè)級自校準光學測量與傳感技術(shù)開發(fā)，也是國內(nèi)唯一一家實現(xiàn)OFDR技術(shù)商用化的公司。目前，昊衡科技已推出多款高精度高分辨率產(chǎn)品，主要應(yīng)用于光學鏈路診斷、光學多參數(shù)測量、高精度分布式光纖溫度和應(yīng)變傳感測試。已與全球多個國家和地區(qū)企業(yè)建立良好的合作關(guān)系，并取得諸多成果。