4/10/2023，光纖在線訊，#01了解無(wú)源器件測(cè)試的三個(gè)關(guān)鍵參數(shù):IL、RL、PDL。插損（IL）是在鑒定無(wú)源器件時(shí)需要測(cè)量的基本參數(shù)。大多數(shù)器件特性都通過(guò)測(cè)量插損獲得，這些特性包括損耗、中心波長(zhǎng)、紋波、帶寬、相鄰和非相鄰?fù)ǖ栏綦x度。

回?fù)p（RL）可鑒定從被測(cè)設(shè)備（DUT）反射到某個(gè)給定端口（輸入或輸出端口）的光量。

🔍下圖為IL/RL測(cè)量配置



偏振相關(guān)損耗（PDL）用于鑒定在偏振態(tài)發(fā)生變化時(shí)，插損的最大變化量。

🔍下表給出了兩種不同的測(cè)量方法



#02使用高采樣分辨率快速、掃頻測(cè)量

使用連續(xù)可調(diào)諧激光器和快速光檢測(cè)器/功率計(jì)在波長(zhǎng)掃描期間同步采集波長(zhǎng)和功率數(shù)據(jù)，可在幾秒內(nèi)以皮米級(jí)波長(zhǎng)分辨率完成光譜鑒定。這是在需要測(cè)試的 DUT 數(shù)量較多時(shí)的理想選擇。



用例1：微環(huán)諧振腔

基于PIC技術(shù)，具有超大Q因子的干涉結(jié)構(gòu)。因?yàn)楣庾V對(duì)比度高，所以光譜鑒定非常具有挑戰(zhàn)性，需要采用亞皮米級(jí)分辨率。



用例2：陣列波導(dǎo)光柵（AWG）

有多個(gè)輸出端口的集成光子器件、基于波分復(fù)用光柵的光譜濾波器。同時(shí)測(cè)量每個(gè)通道，并分析中心波長(zhǎng)和隔離PDL。



用例3：高PER設(shè)備

使用帶反饋功能的快速偏振控制器對(duì)高偏振設(shè)備進(jìn)行光譜鑒定——鎖定最大或最小插損。



🔍 需要進(jìn)行光譜測(cè)試的其它器件
復(fù)用器/解復(fù)用器、梳狀濾波器、波長(zhǎng)選擇開(kāi)關(guān)（WSS）、薄膜濾波器（TFF）、增益平坦濾波器

#03使用EXFO光測(cè)試解決方案



• 測(cè)量時(shí)間：3 s（100 nm時(shí)典型值）
• IL、RL、PDL（穆勒矩陣法）和光電流測(cè)量
• 光采樣分辨率 < 1 pm，動(dòng)態(tài)范圍 > 70 dB
• 多通道測(cè)量功能





#04.使用EXFO自動(dòng)的PIC測(cè)試系統(tǒng)

適用于測(cè)試集成光子器件的自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)——

• 晶圓級(jí)、單芯片和多芯片對(duì)準(zhǔn)
• 測(cè)試站自動(dòng)化與分析
• 集成的IL、RL和PDL測(cè)量
• 高模塊化、高性能
• 光/電/RF檢測(cè)，最多4個(gè)檢測(cè)頭


PILOT軟件——在單個(gè)芯片上邊緣耦合


EXFO的OPAL自動(dòng)測(cè)試站——溝槽邊緣耦合