3/25/2024，光纖在線訊，隨著高速光通信發(fā)展，光器件種類多、迭代快，對測量儀要求更高。而在新興平面光波導(dǎo)和硅光芯片領(lǐng)域，其對儀表測量精確性、穩(wěn)定性和操作便利性等各方面提出前所未有的挑戰(zhàn)。昊衡科技專注于高端光學(xué)測量與傳感測試系統(tǒng)研發(fā)和解決方案開發(fā)，擁有OFDR核心技術(shù)，并成功推出國產(chǎn)多功能光學(xué)矢量分析系統(tǒng)--OCI-V。


圖1. 光矢量分析系統(tǒng)（OCI-V）
    OCI-V光學(xué)矢量分析系統(tǒng)，原理是采用線性掃頻光源對待測器件進(jìn)行掃描，并結(jié)合相干檢測技術(shù)獲取待測器件的瓊斯矩陣，進(jìn)而獲得器件插損(IL)、色散(CD)、偏振相關(guān)損耗(PDL)、偏振模色散(PMD)等多項(xiàng)光學(xué)參數(shù)。系統(tǒng)測量長度200m，可工作在C+L或O波段，具有測量范圍大、波長范圍寬、覆蓋器件廣、測量參數(shù)多等優(yōu)勢。

01.  HCN氣體吸收室測量


圖2.OCI-V測量HCN氣體吸收室
    HCN氣室會(huì)對固定波長的光進(jìn)行吸收造成損耗，OCI-V測量不同波段的光通過HCN氣室后的損耗情況。

02.  保偏光纖快慢軸時(shí)延差測量


圖3.OCI-V測量保偏光纖快慢軸
    保偏光纖快軸折射率小、光傳輸速度快，慢軸折射率大、光傳輸速度慢。OCI-V精確測量PMD對于評估光纖制備、光器件制造及光通信鏈路非常有意義。

03.  FBG受壓時(shí)偏振相關(guān)損耗測量


圖4.OCI-V測量FBG受壓時(shí)偏振相關(guān)損耗

    FBG在沒有壓力時(shí)中心波長附件光波段的PDL趨近于0，施加壓力后中心波長附近兩端出現(xiàn)兩個(gè)峰值，隨著壓力逐漸增大，波峰峰值越來越大，在壓力達(dá)到60KN時(shí)波峰出現(xiàn)最大值。

    OCI-V光學(xué)矢量分析系統(tǒng)能夠同時(shí)測量光學(xué)網(wǎng)絡(luò)損耗、偏振、色散等信息，分析光器件在寬譜、精細(xì)波長下的損耗和時(shí)延。其功能強(qiáng)大、操作方便，在光器件的研發(fā)、生產(chǎn)全過程中發(fā)揮重要作用，為改善設(shè)計(jì)、優(yōu)化結(jié)構(gòu)和評估工藝等提供可靠依據(jù)。

昊衡科技
    一家集研發(fā)、生產(chǎn)、銷售于一體的高科技公司，專業(yè)從事工業(yè)級自校準(zhǔn)光學(xué)測量與傳感技術(shù)開發(fā)，也是一家實(shí)現(xiàn)OFDR技術(shù)商用化的公司。

    目前，昊衡科技已推出多款高精度高分辨率產(chǎn)品，主要應(yīng)用于光學(xué)鏈路診斷、光學(xué)多參數(shù)測量、高精度分布式光纖溫度和應(yīng)變傳感測試。已與全球多個(gè)國家和地區(qū)企業(yè)建立良好的合作關(guān)系，并取得諸多成果。

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公眾號：“昊衡科技”或“大話光纖傳感”