導(dǎo)讀:東莞銘普光磁于近日取得一項中華人民共和國國家知識產(chǎn)權(quán)局頒發(fā)的“光功率監(jiān)測方法、裝置、設(shè)備及存儲介質(zhì)”發(fā)明專利證書。
					 
					
						
						3/19/2021,光纖在線訊,東莞銘普光磁股份有限公司(以下簡稱“公司”或“銘普光磁”)公告稱:公司于近日取得一項中華人民共和國國家知識產(chǎn)權(quán)局頒發(fā)的“光功率監(jiān)測方法、裝置、設(shè)備及存儲介質(zhì)”發(fā)明專利證書。
  具體情況如下:
  證書號:第 4301694 號
  發(fā)明名稱:光功率監(jiān)測方法、裝置、設(shè)備及存儲介質(zhì)
  專利號: ZL 2019 1 1403766.3
  專利類型:發(fā)明專利
  專利申請日:2019 年 12 月 30 日
  專利權(quán)人:東莞銘普光磁股份有限公司
  授權(quán)公告日:2021 年 03 月 16 日
  專利權(quán)期限:20 年(自申請日起算)
  本申請公開一種光功率監(jiān)測方法、裝置、設(shè)備及存儲介質(zhì),其中,光功率監(jiān)測方法包括:獲取待監(jiān)測光模塊的校準參數(shù);根據(jù)所述校準參數(shù)計算得所述待監(jiān)測光模塊的第一光功率偏差;根據(jù)所述校準參數(shù)、第一光功率偏差計算得到所述待監(jiān)測光模塊的參考光功率;根據(jù)所述參考光功率、所述校準參數(shù)、所述第一光功率偏差計算得到所述待監(jiān)測光模塊的當(dāng)前光功率。本申請能夠?qū)崿F(xiàn)對光模塊的光功率監(jiān)測的同時,還具有占用光模塊運行資源少、成本低等優(yōu)點。
					
					
					
						
						
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