5/15/2003, 儀表公司安立Anritsu微波測量部門(http://www.anritsu.com/)今天宣布推出基于其光波矢量分析儀的高速光器件測量方案,主要針對光調(diào)制器,直接調(diào)制激光器,光探測器等的微波性能測量。該方案最高支持65GHz的測量,可以精確分析2.5G, 10G, 40G光器件的帶寬,平坦度,相位等性能。儀器內(nèi)置的軟件還大大簡化了測試過程。安立還同時推出配套的標(biāo)準(zhǔn)40G探測器。
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