4/3/2006，領(lǐng)先的陶瓷插芯和光纖跳線制造商深圳威誼光通技術(shù)有限公司宣布，他們在新品開發(fā)上又有了新的突破。威誼光通與杰普特科技，在最基礎(chǔ)的數(shù)學算法基礎(chǔ)上，聯(lián)手研制出光纖用PDL測試儀，PMD測試儀，偏振參數(shù)分析儀等一系列具有自主知識產(chǎn)權(quán)的新產(chǎn)品。
    偏振相關(guān)損耗測量儀（PDLM）用于測量光纖系統(tǒng)和光纖器件的偏振相關(guān)損耗。本產(chǎn)品集成了5種方法對偏振相關(guān)損耗進行測量，用戶可以在軟件界面中進行選擇，也可以選擇自動模式讓測量系統(tǒng)自動比較和選擇優(yōu)化的測量方法。這些測量方法包括了隨機輸入偏振態(tài)方法，基于瓊斯和密勒矩陣分析的四偏振態(tài)輸入、三偏振態(tài)輸入和兩偏振態(tài)輸入方法，以及基于偏振度測量的準單色非偏振光輸入方法。這些方法各有不同的優(yōu)點和缺點，綜合應用可以實現(xiàn)高速、高精度的測量。
    偏振模色散測量儀(PMDM)用于測量光纖系統(tǒng)和光纖器件的偏振模色散。本產(chǎn)品集成了8種方法對偏振模色散（矢量）進行測量，用戶可以在軟件界面中進行選擇，也可以選擇自動模式讓測量系統(tǒng)自動比較和選擇優(yōu)化的測量方法。這些測量方法包括了適用于待測系統(tǒng)沒有偏振相關(guān)損耗\增益的情況的邦加球法、C.D.Poole方法、密勒矩陣法、虛擬密勒矩陣法；以及適用于待測系統(tǒng)有偏振相關(guān)損耗\增益的情況的瓊斯矩陣本征分析法、擴展的邦加球法、復平面法、擴展密勒矩陣法。這些方法各有不同的優(yōu)點和缺點，綜合應用可以實現(xiàn)高速、高精度的測量，提供一階和二階偏振模色散矢量的信息。
　　偏振參數(shù)分析儀(PPA)用于測量光纖系統(tǒng)和光纖器件的偏振特性，包括消偏振特性、雙折射特性、偏振相關(guān)損耗和增益以及這些參數(shù)的隨光頻的變化，也可用于進行對系統(tǒng)的偏振模色散特性進行最一般情況下的分析。PPA通過對密勒矩陣的測量和分解實現(xiàn)上述功能。系統(tǒng)自動選擇最優(yōu)的測量方法和參數(shù)進行分析。
    這一系列的新產(chǎn)品將于6月份面向市場。這將打破國外公司 對該類產(chǎn)品的壟斷局面，為我國在更高端的產(chǎn)品開發(fā)領(lǐng)域作出貢獻。