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新品 ┃ 聯(lián)訊儀器全新推出200V PXIe 精密源表S2012C

光纖在線編輯部  2022-10-31 11:17:44  文章來源:本站消息  版權(quán)所有,未經(jīng)許可嚴(yán)禁轉(zhuǎn)載.

導(dǎo)讀:近日,聯(lián)訊儀器全新推出 PXIe 精密電源/測量單元 S2012C。

10/31/2022,光纖在線訊,聯(lián)訊儀器全新推出 PXIe 精密電源/測量單元 S2012C。其最小測量分辨率達(dá)10fA/100nV,輸出電壓高達(dá)±200V。進(jìn)一步拓展了PXIe源表的應(yīng)用場景,工程師可以使用 S2012C SMU(Source Measure Unit) 來測量低電流信號(hào),同時(shí)PXIe SMU 的高通道密度、高速的測試吞吐率和靈活性可實(shí)現(xiàn)晶圓級(jí)參數(shù)測試、材料研究以及分析低電流傳感器和集成電路的特性等多種應(yīng)用。




01.高精度
S2012C  分辨率高達(dá)10fA/100nV,電壓精度100μV,電流精度10pA ,可用于測量微小的泄漏電流等應(yīng)用場合,泄漏電流通常在pA級(jí)別,S2012C搭配3同軸測量端子,用于nA級(jí)以下小電流測試。

02.Adaptive PFC系統(tǒng)

用戶可利用Adaptive PFC(Precise-Fast Control)系統(tǒng),用戶可根據(jù)負(fù)載特性,調(diào)整相關(guān)參數(shù),獲得更精確,快速的輸出特性。

03.高速測量
S2012C 最高可支持1M的采樣率,NPLC和采樣率可根據(jù)需要設(shè)定,以滿足高速高精度的測量場景。

04.構(gòu)建多通道并行測試系統(tǒng)
基于PXIe的模塊化架構(gòu)便于構(gòu)建緊湊的并行多通道測試系統(tǒng),可擴(kuò)展至數(shù)百個(gè)通道來滿足晶圓級(jí)可靠性和并行測試需求。

05.直流I-V輸出能力


06.脈沖I-V輸出能力


SMU產(chǎn)品系列▼





▶關(guān)于聯(lián)訊

     聯(lián)訊儀器是國內(nèi)高端測試儀器和設(shè)備提供商。主要專注于高速通信測試,光芯片測試和半導(dǎo)體測試三大領(lǐng)域,可以提供包括高速誤碼儀、網(wǎng)絡(luò)測試儀、寬帶采樣示波器、高精度波長計(jì)、光譜儀,通用數(shù)字源表等高端測試儀器,以及高速光電混合ATE, 激光器芯片老化機(jī),激光器芯片測試機(jī),硅光晶圓測試機(jī),功率芯片測試機(jī),晶圓老化機(jī),半導(dǎo)體參數(shù)測試機(jī)等高端測試設(shè)備。

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