7/30/2025，光纖在線訊     隨著人工智能、數(shù)據(jù)中心和量子計算的迅猛發(fā)展，光子集成電路（PIC）正成為高速、低功耗互聯(lián)的核心技術(shù)。然而，PIC的高量產(chǎn)需求對測試環(huán)節(jié)提出了前所未有的挑戰(zhàn)：如何實現(xiàn)高效、高密度、低成本的測試？唐領(lǐng)科技合作伙伴Quantifi Photonics憑借其創(chuàng)新的PXI測試解決方案，為行業(yè)提供了完美的答案。

        在PIC的研發(fā)和量產(chǎn)過程中，測試環(huán)節(jié)面臨四大核心挑戰(zhàn)：  
1. 可擴展性：傳統(tǒng)測試設(shè)備難以適應(yīng)從研發(fā)到量產(chǎn)的動態(tài)需求變化。  
2. 效率：毫秒級的測試延遲在高量產(chǎn)中會累積成巨大的時間成本。  
3. 密度：測試設(shè)備占用空間過大，增加潔凈室成本和并行測試難度。  
4. 成本：高昂的總擁有成本（TCO）制約量產(chǎn)經(jīng)濟性。  

        Quantifi Photonics的PXI測試平臺正是為解決這些問題而生，我們來看看這個平臺的技術(shù)優(yōu)勢：


1. 模塊化設(shè)計，靈活擴展  
—  PXI的模塊化架構(gòu)支持按需配置，從研發(fā)到量產(chǎn)無縫過渡。用戶可輕松增減模塊或擴展機箱，無需更換整套設(shè)備，顯著降低升級成本。  
        例如，Quantifi的激光源（Laser-2001）和光功率計（Power-1401）模塊可通過硬件同步實現(xiàn)波長掃描與功率測量，代碼簡潔高效。  

2. 高密度集成，節(jié)省空間
— 單個PXI機箱可整合激光源、光開關(guān)、誤碼率測試儀（BERT）等十余種儀器，占用空間僅為傳統(tǒng)機架設(shè)備的1/3。  
—  高密度設(shè)計支持并行測試，顯著提升吞吐量，適合晶圓級（Wafer Level）和模塊級（Module Level）測試場景。  

3. 硬件級同步，極致效率  
— PXI的10/100 MHz同步觸發(fā)總線消除軟件延遲，測試速度提升至納秒級。例如，在頻率響應(yīng)測試中，激光波長切換與功率采集的精確同步可一次性完成全波段分析。  
— 相比手動切換儀器（耗時10秒），PXI的硬件觸發(fā)僅需納秒，單日測試量提升高達30%。  

4. 光電混合測試，一站式解決  
—  PIC測試需同時處理光信號（如插入損耗、SMSR）和電信號（如SMU功耗測試）。Quantifi的PXI平臺支持光電模塊混合配置，避免多設(shè)備堆砌，降低集成復(fù)雜度。  

5. 未來驗證，持續(xù)升級  
— 隨著PCIe技術(shù)演進，PXI總線帶寬將持續(xù)提升，輕松應(yīng)對未來400G/800G光互聯(lián)測試需求。Quantifi的模塊化設(shè)計允許用戶隨時添加新功能，保護投資價值。  

        雖然在 PIC 測試中會使用多種類型的儀器，但在電信、數(shù)據(jù)通信和人工智能市場中，QP PXI平臺可以集成大部分的測量模塊，其中包括覆蓋 O、S、C 和 L 波段的激光器、光開關(guān)、單多?？勺児馑?、光功率計、光譜儀、偏正控制器、OE、誤碼測試模塊及光電采樣示波器。這個PXI光電測試可以應(yīng)用在以下相關(guān)測試場景：

—晶圓級測試：集成光探頭對準(zhǔn)、收發(fā)性能測試、光學(xué)環(huán)回等功能，支持多通道并行測試。


— 模塊級測試：通過BERT和數(shù)字采樣示波器（DSO）實現(xiàn)眼圖分析和誤碼率測試，確保產(chǎn)品可靠性。 
 

— PIC量產(chǎn)一致性測試：光開關(guān)與可變光衰減器（VOA）組合，自動化完成偏振相關(guān)損耗（PDL）和波長相關(guān)損耗（WDL）檢測。
 


          集成光子學(xué)是數(shù)據(jù)中心應(yīng)用的必然技術(shù)。光子集成電路助力高帶寬、低能耗的光互連，覆蓋從數(shù)據(jù)中心間鏈路到 CPU 間互連的廣泛距離。人工智能和電信網(wǎng)絡(luò)的未來依賴于 PICs。它們是高帶寬互連的節(jié)能解決方案。就像二十年前的半導(dǎo)體一樣，光子學(xué)正處于一個轉(zhuǎn)折點，需求即將爆發(fā)。隨著集成光子制造的增長和演變，測試也必須隨之發(fā)展。大規(guī)模生產(chǎn)測試面臨三個主要挑戰(zhàn)，這些挑戰(zhàn)在早期測試階段并不存在：
— 可擴展性
— 效率
— 密度

        由單獨的臺式儀器組成的測試設(shè)置難以擴展且成本高昂，光學(xué)測試的密度低，在大規(guī)模生產(chǎn)時測試效率不夠高，這使得它們的總擁有成本（TCO）很高。在PIC技術(shù)邁向高量產(chǎn)的拐點，Quantifi Photonics以PXI測試平臺為核心，為客戶提供了高密度、高效率、低成本的完整解決方案。無論是電信光模塊、AI加速互聯(lián)，還是量子計算控制，Quantifi的技術(shù)優(yōu)勢都將助您突破測試瓶頸，贏在未來。唐領(lǐng)科技作為在光通信領(lǐng)域深耕多年的測試方案解決商緊跟時代的步伐，給廣大光通信客戶帶來更完備和實惠的測試方案，如需了解更多關(guān)于PIC、CPO等相關(guān)測試方案請直接聯(lián)系 sales@te-lead.com ,關(guān)注唐領(lǐng)科技公眾號獲得更多最新資訊。