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Santec重磅發(fā)布多通道偏振消光比測試儀:30dB精度加持,效率精準(zhǔn)雙突破

光纖在線編輯部  2025-04-11 12:05:21  文章來源:原文轉(zhuǎn)載  

導(dǎo)讀:隨著AI大模型參數(shù)量突破10萬億級,數(shù)據(jù)中心帶寬需求呈指數(shù)級增長。在此背景下保偏FAU(Fiber Array Unit, 光纖陣列單元)以及ELSFP (External Laser Small Form-Factor Pluggables,外接激光光源可插拔模塊) 迎來了潛在的大規(guī)模發(fā)展。

4/11/2025,光纖在線訊,隨著AI大模型參數(shù)量突破10萬億級,數(shù)據(jù)中心帶寬需求呈指數(shù)級增長。在此背景下保偏FAU(Fiber Array Unit, 光纖陣列單元)以及ELSFP (External Laser Small Form-Factor Pluggables,外接激光光源可插拔模塊) 迎來了潛在的大規(guī)模發(fā)展。

為了更好地滿足數(shù)據(jù)中心對光通信設(shè)備性能的要求,Santec 推出了全球首款多通道偏振消光比PER測試儀PEM-400。其能夠?qū)ΡF獸AU、ELSFP等光通信設(shè)備的偏振消光比進(jìn)行精準(zhǔn)測量,確保這些設(shè)備在數(shù)據(jù)中心的高速通信網(wǎng)絡(luò)中發(fā)揮出最佳性能,從而為AI大模型的高效運(yùn)行提供有力支撐。

解決目前多通道PER測試痛點(diǎn)
針對多通道保偏FAU以及ELSFP的PER測試,目前行業(yè)內(nèi)只有單通道PER測試儀,用戶需要手動通過夾具調(diào)節(jié)對準(zhǔn)每個(gè)通道來測試PER,測試效率低下并且因?yàn)槭謩訉?zhǔn)夾具引入了不確定因素導(dǎo)致PER測試結(jié)果不準(zhǔn)確。

PEM-400 通過在高速功率計(jì)前設(shè)置旋轉(zhuǎn)起偏器來測量多通道高達(dá) 30 dB 的偏振消光比和偏振角,同時(shí),還可以測量無源組件的插入損耗(Insertion Loss, IL)或有源組件的輸出功率。

產(chǎn)品亮點(diǎn)

多通道 PER 測試
集成了Santec高穩(wěn)定的光開關(guān)(repeatability± 0.005 dB)實(shí)現(xiàn)了優(yōu)越的多通道PER測量,輸出端口高達(dá)24個(gè)。

高達(dá)30dB的PER測量能力
獨(dú)特的光學(xué)設(shè)計(jì),使其擁有高達(dá)30dB PER的測量能力。

一次連接完成所有測試
無需重新定位被測產(chǎn)品的通道或者使用校準(zhǔn)平臺來耦合被測產(chǎn)品,實(shí)現(xiàn)一次連接即可完成所有通道的PER, 插入損耗(或光功率)以及偏振角度的測量。

快速測量
獨(dú)有專利3mm直徑的探測器,使其擁有行業(yè)內(nèi)最快的自動化測試速度,一根12芯的光纖陣列單元FAU能在30s內(nèi)完成所有通道的測量。

測量參數(shù)
偏振消光比PER, 偏振角度Angle,插入損耗IL(或者絕對光功率Absolute Power)。

可定制化
靈活的設(shè)計(jì),使其實(shí)現(xiàn)定制化,滿足不同波長偏振光源以及不同通道的測量需求。

外置探頭
即將發(fā)布的外置探頭版本,能滿足客戶復(fù)雜的測試系統(tǒng)環(huán)境的搭建需求。

測試系統(tǒng)
1.多通道光纖陣列FAU的PER,Angle以及IL測量系統(tǒng)(需要參考跳線)


2.多通道光纖陣列FAU的PER,Angle測量系統(tǒng)(無需參考跳線)


3.有源器件測試,如ELSFP, 測量PER以及絕對功率等參數(shù) 


官網(wǎng):www.santec.com.cn
電話:021-58361261
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